Gall chwyddo batris lithiwm gael ei achosi gan y rhesymau canlynol:
1. chwydd batri lithiwm a achosir gan gordalu
Bydd gordalu yn achosi i'r holl ïonau lithiwm yn y deunydd electrod positif redeg i mewn i'r deunydd electrod negyddol, gan achosi i grid llawn gwreiddiol yr electrod positif anffurfio a chwympo. Yn y broses hon, bydd yr ïonau lithiwm yn yr electrod negyddol yn dod yn fwy a mwy, a bydd y crynhoad gormodol yn gwneud i'r atomau lithiwm dyfu bonion. Crisialu, gan achosi i'r batri chwyddo. Mae hyn hefyd yn rheswm mawr dros y dirywiad yng ngrym pecynnau batri lithiwm.
2. Bumps a achosir gan or-ollwng
Bydd y ffilm SEI yn cael effaith amddiffynnol ar y deunydd electrod negyddol, gan wneud y strwythur deunydd ddim yn hawdd i'w gwympo, a gall gynyddu bywyd beicio'r deunydd electrod. Bydd ychydig o newid yn y ffilm SEI yn ystod y broses codi tâl a rhyddhau, yn bennaf oherwydd bydd rhai sylweddau organig yn cael newidiadau cildroadwy. Ar ôl i'r batri gael ei or-ollwng, caiff y ffilm SEI ei niweidio'n wrthdroadwy, ac mae'r SEI sy'n amddiffyn y deunydd electrod negyddol yn cael ei ddinistrio, gan achosi i'r deunydd electrod negyddol gwympo, a thrwy hynny ffurfio ffenomen chwyddo batri lithiwm. Os nad yw'r gwefrydd a ddefnyddir yn bodloni'r gofynion, gall achosi i'r batri chwyddo, neu achosi damwain diogelwch neu hyd yn oed ffrwydro.
3. Problemau prosesau gweithgynhyrchu
Wrth gynhyrchu pecynnau batri lithiwm, mae'r cotio electrod yn anwastad ac mae'r broses gynhyrchu yn gymharol garw, a all hefyd achosi chwyddo batri lithiwm.
Felly, rhaid profi batris lithiwm ffôn symudol ar ôl eu cynhyrchu, gan gynnwys profi ymddangosiad, profion diogelwch, profi dibynadwyedd, a phrofion electrocemegol. Er mwyn gwella effeithlonrwydd prawf batris lithiwm a sicrhau sefydlogrwydd y prawf, gellir defnyddio'r modiwl prawf batri - modiwl micronodwyddau shrapnel fel cyfrwng cysylltu ar gyfer profion batri lithiwm ffôn symudol. Yn bennaf mae'n darparu trosglwyddiad cyfredol uchel a chysylltiad signal. Cynnal gallu gorlifo sefydlog o fewn yr ystod -50A, cysylltiad dibynadwy a pherfformiad sefydlog.
